江苏苏州有色金属分析检测设备

大气污染防治测定仪 161     

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申贝科学仪器(苏州)有限公司推出的PGM-7340型大气污染防治测定仪，是一款集成多气体检测与智能预警功能的手持式设备。该仪器通过电化学传感器与光离子化检测（PID）技术，可实时监测VOCs、一氧化碳（CO）、硫化氢（H?S）等有毒有害气体浓度，广泛应用于工业安全、环境监测及应急救援领域。其便携设计、高精度测量与多场景适应性，为大气污染防控与职业健康保护提供实时、可靠的解决方案。

便携式水质快速检测仪 173     

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申贝科学仪器(苏州)有限公司推出的MP6800型便携式水质快速检测仪，是一款集成多参数检测与智能分析功能的手持式设备。该仪器通过电化学、光学检测技术，可现场快速测定pH、溶解氧、电导率、浊度、COD、氨氮等20余项水质指标，广泛应用于环境监测、工业水处理、应急检测及科研教学领域。其便携设计、高精度测量与数据管理功能，为水质安全评估与污染治理提供实时、可靠的解决方案。

三维原子探针 335     

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这台三维原子探针（APT、3DAP）是目前具有最高3D空间分辨率的分析技术，主要用于研究纳米尺度的微结构（如析出相、团簇、GP区）以及界面上元素的偏聚行为，能够以原子级别的分辨率给出金属、半导体、陶瓷、地质和生物等材料内部的三维成分分布。设备参数包括分析仓真空度约10??? Torr，样品台最低温度25 K，空间分辨率0.1 nm，最高脉冲频率500 kHz，激光能量范围1-1000 pJ。功能配置包括电压脉冲和激光脉冲工作模式、真空低温传输模块、高频发生器、数据处理工作站系统以及实时初步三维重构功能，能够满足高精度的三维成分分析需求。

X射线光电子能谱仪 293     

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用于表面的元素成分、元素化学状态信息分析，广泛应用于分析无机化合物、合金、聚合物，能源电池，表征表面成分、表面缺陷（腐蚀、异物、污染、分布不均等）、表面多层薄膜等。

X射线荧光光谱仪 287     

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这台X射线荧光光谱仪（型号：ARL PERFORM’X）主要用于金属制品、油品、塑料、矿产品、PM2.5大气滤膜、玻璃、聚合物等材料的快速定性和定量分析。其测量范围从百分级别至10 ppm，分析元素覆盖从钠（Na）到铀（U）的元素周期表范围。设备具备全自动样品管理的XY进样器，兼具点分析和面扫描功能，适用于大样品和小样品的分析。此外，还配备了无标样分析软件，能够实现未知样品的初步分析，满足多种材料的快速检测需求。

火花放电直读光谱仪 298     

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这台火花放电直读光谱仪（型号：ARL8860）通过电火花激发金属样品表面，使各金属元素的电子层产生跃迁并发射光辐射，从而检测材料的组成成分（定性）和各元素的具体含量（定量）。设备最多可配置80个光电倍增管（PMT），采用特殊铸铁机身，温度控制在36?C±0.1?C，确保测量的稳定性。聚焦透镜由石英玻璃、氟化钙（CaF?）或氟化镁（MgF?）制成，出射狭缝宽度可选25、37.5、50或75 mm。功能配置包括单火花采集（SSA）和实时“固有”背景抑制（RIBS），能够有效提高测量的准确性和效率。

辉光放电高分辨质谱仪 297     

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这台辉光放电高分辨质谱仪（型号：ELEMENT GD PLUS）主要用于高纯固体样品中元素的分析，能够在单次扫描中完成基体元素（%）、痕量元素（ppm）和超痕量元素（ppb）的检测，分析范围覆盖整个元素周期表。设备采用固体直接进样，分析速度快，通常一个样品的分析时间在15分钟左右。其测定下限低，多数元素检测限可达1 ppb（wt），具备超过12个数量级的自动检测系统，分辨率切换时间小于1秒，能够满足高精度、高灵敏度的元素分析需求。

无机C、S分析仪 280     

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这台无机C、S分析仪（型号：EMIA-20E）采用高频感应加热和红外吸收法，能够快速准确地测定钢铁、金属粉末、有色金属、陶瓷、矿产等固体无机材料中碳和硫元素的含量。其测试范围为碳0.6 ppm–10.0%、硫0.6 ppm–1.0%（基于1 g试样），分析重复性优异，碳优于0.5% RSD，硫优于0.75% RSD，分析速度小于2分钟/样，适合全量程范围的无机材料分析。

无机O、N、H分析仪 290     

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这台无机O、N、H分析仪（型号：EMGA-930）采用脉冲加热和红外热导检测技术，能够快速准确地测定钢铁、金属粉末、有色金属、陶瓷、矿产等固体无机材料中氧、氮、氢元素的含量。其测试范围为氧0.04 ppm-5.0%、氮0.04 ppm-3.0%、氢0.08 ppm-0.25%，分析重复性优异，氧氮优于0.5%RSD，氢优于2%RSD，分析速度小于5分钟/样，适合全量程范围的无机材料分析。

便携式残余应力仪 287     

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单角度一次入射后，利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力。主要应用于机械加工、冶金、零配件制造等领域。

大功率X射线应力分析仪 290     

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对多晶金属材料零件在铸造、焊接、热处理和机加工后进行非破坏性残余应力测试，主要针对钢铁材料、铝合金、不锈钢、镍基高温合金、钛合金和陶瓷等材料。

盲孔法应力仪 274     

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通过钻孔及应变计测得释放的应变量，根据弹性力学原理计算出残余应力的大小。主要对金属（如钢铁、铝）等进行残余应力的测试裂韧性、应力-应变曲线、疲劳、存储模量及损耗模量等特性。

大力值高温动态热机械分析仪 282     

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大力值高温动态热机械分析仪用于表征材料高低温下的动态特性，包括蠕变、应力松弛等静态力学行为及滞后、内耗等动态力学行为，是评定材料或构件的使用寿命、安全服役的有效技术手段，对金属、薄膜、树脂基复合材料及纳米材料等新型材料的发展具有重要指导作用。

热膨胀仪 286     

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热膨胀仪广泛应用于金属、玻璃、耐火材料、造型材料、陶瓷、釉料、石墨等材料的测试，热膨胀系数是材料热稳定性好坏的重要指标，对材料的生产、加工和使用具有十分重要的指导意义。

激光导热仪 286     

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这台激光导热仪主要用于非接触式测量样品表面的热扩散系数，并计算材料的热导率。它能够在惰性或氧化气氛下测量固体、液体、粉末、薄膜和纤维等多种样品，测量速度快且精度高，导热系数测量范围覆盖0.1-4000 W/(m·K)。设备温度范围为-100℃至500℃，热扩散系数测量范围为0.01-2000 mm?/s，能够满足多种材料的热性能测试需求。

同步热分析-质谱-红外联用 275     

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通过测量材料受热过程中的物理或化学变化，探讨材料的反应热、结构转变、组成成分。

CHNS/O有机元素分析仪 298     

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CHNS/O 有机元素分析仪采用气相色谱分离法测定各元素，采用双炉并联结构，可实现快速、准确测定水泥陶瓷、爆炸物、石墨烯、碳黑、颜料与染料、碳纤维、橡胶轮胎、树脂、润滑油添加剂，高分子材料和烟草等全量程范围固体中CNNS/O元素的测定。

场发射电子探针 279     

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这台场发射电子探针广泛应用于钢铁、汽车、电子零件和电池材料等工业领域，主要用于固体材料微区成分的定性和定量分析，以及元素化学状态分析，尤其在轻元素（如C、Li）的微区元素分辨方面表现出色。设备参数包括加速电压范围1-30 kV，束流范围10??? - 3×10?? A，束斑尺寸在10 kV下不超过20 nm，二次电子（SE）分辨率为2.5 nm（30 kV），可分析元素范围为B5至U92，配备4道波谱仪。功能配置包括肖特基场发射电子枪、四道波谱仪、100和140 mm罗兰圆半径以及70 mm?电制冷能谱仪，能够提供高精度的微区成分分析。

场发射透射电子显微镜（高温样品杆） 389     

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高分辨场发射透射电子显微镜广泛应用于纳米材料、薄膜材料、高分子材料、半导体、陶瓷、生物等各种材料，结合能谱仪可以对微区元素含量及分布进行表征，热电样品杆可实现TEM下原位加热实验。

场发射透射电子显微镜（高速相机） 395     

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这台高分辨场发射透射电子显微镜（高速相机）主要用于高分子材料、半导体、陶瓷、生物等各种材料的微观结构分析。结合能谱仪，可以对微区元素含量及分布进行表征。其高分辨高速相机能够提供25fps帧速率的4K×4K全画幅实时观察。设备参数包括加速电压范围20–200 kV，点分辨率为0.23 nm（200 kV），线分辨率为0.10 nm（200 kV），HAADF分辨率为0.16 nm，样品台倾斜角度为TX/TY：±35°/±30°。功能配置包括高速高分辨COMS相机、TEM/EDS/NBD/CBD模式、2×100 mm?超级能谱仪系统和主动防震平台，能够满足高精度的微观分析需求。

聚集离子-电子双束显微镜 285     

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聚焦离子/电子双束电镜可用于金属、半导体等固体样品上制备微纳结构、精确定向制备高质量透射电镜样品等。结合附件可实现样品元素分布、相分布和晶粒取向等多种微观结构分析。

双束电镜与飞秒激光联用系统 290     

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这台双束电镜与飞秒激光联用系统主要用于纳微米尺度下的切割、加工以及透射样品制备等工作。飞秒激光加工系统能够有效扩大聚焦离子束系统的加工范围，实现微米及纳微米尺度的联用加工分析。设备的离子束分辨率为3 nm（30 kV），激光器脉冲宽度优于350 fs，激光最高刻蚀率为106 μm?/sec，EDS能量分辨率优于127 eV，EBSD花样采集速度为945花样/秒。功能配置包括液态镓离子源、高通量数据采集系统、高级微纳加工系统、五支气体注入系统以及线路修复系统，能够满足高精度微纳加工和分析的需求。

双束电镜与二次离子质谱联用系统 305     

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这台双束电镜与二次离子质谱（TOF-SIMS）联用系统主要用于超高分辨率的纳米操作和分析，能够完成从氢（H）开始的轻元素检出分析以及微量元素分析。其离子束分辨率高达2.5 nm（30 kV），TOF-SIMS质谱分辨率不低于800，质量数范围为1-2500，元素含量检出限达到ppm量级，覆盖从氢开始的所有元素。EBSD在线标定速度高达4500点/秒。功能配置包括液态金属镓离子源、铂/碳沉积气体和集成TOF-SIMS系统，结合能谱仪和EBSD，可完成微区成分及晶体结构取向分析，适用于材料科学、纳米技术、地质学和生物学等领域的高精度分析。

场发射环境扫描电子显微镜 329     

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这台场发射环境扫描电子显微镜（ESEM）具有独特的低真空和环境真空模式，广泛应用于金属材料、高分子材料、无机材料（包括矿物、岩土和含水分材料）等的表面二次电子形貌观察、背散射电子组分区分以及能谱元素成分分析。其加速电压范围为200 V至30 kV，电子束流范围为1 pA至200 nA。在高真空模式下，分辨率为1.0 nm（二次电子，SE，30 kV），低真空和环境真空模式下的分辨率为1.3 nm（SE，30 kV）。最大样品高度为85 mm，样品台倾转角度为-15°至+90°。

钨灯丝扫描电镜 317     

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全自动钨灯丝扫描电子显微镜具有突出的电子光学性能，清晰的数字化图像，成熟的操作软件，用户界面友好等特征，适用于材料断口形貌和微观组织观察、微区成分定性和半定量分析等。

原位场电子发射显微镜 319     

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这台原位场电子发射显微镜（原位扫描电子显微分析系统）不仅具备普通扫描电镜对材料表面微观形貌、微区元素分析及晶体结构分析的功能，还能用于研究材料在原位拉伸、高温实验中的微观组织结构变化，以及变化过程中元素和晶体结构的动态变化。其电镜分辨率高达0.7 nm @15 kV（二次电子，SE）和0.6 nm @1 kV（Inlens），放大倍率范围为12-2,000,000×。探针电流不小于20 nA，束流稳定性优于0.2% /h，加速电压范围为0.02 kV至30 kV，连续10V可调。样品台具备X≥130 mm、Y≥130 mm、Z≥50 mm的移动范围，倾斜角度为-4~70°，旋转角度为360°。

超大样品仓扫描电子显微镜 316     

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这台超大样品仓扫描电子显微镜主要用于较大样品的微观形貌观察和微区元素分析，配合拉伸台可进行原位观察。其分辨率在30 kV下为3.0 nm（二次电子和钨灯丝）和4.0 nm（VP与背散射电子），加速电压范围为0.2–30 kV。EDS探测器能量分辨率优于127 eV（Mn Kα），元素分析范围覆盖Be4至Cf98。样品仓可容纳最大高度210 mm、直径300 mm、重量5 kg的样品。功能配置包括二次电子探测器、背散射电子探测器、样品室CCD相机、五轴马达驱动样品台、能谱仪和原位拉伸台，能够满足多种复杂样品的微观分析需求。

台式电子显微镜 323     

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这台台式电子显微镜（扫描电镜）具有体积小巧、操作简便、快速抽真空以及无需喷金即可观测不导电样品等优势，广泛应用于材料科学、纳米颗粒、生物医学、食品药品、纺织纤维和地质科学等领域。设备的电子放大倍数范围为80～150,000倍，电子光学分辨率优于10 nm（背散射电子，BSE）和8 nm（二次电子，SE），光学放大倍率为20～134倍。采用CeB6灯丝作为电子光学照明，加速电压范围为5～15 kV。配备能谱仪，有效面积为25 mm?，元素能量分辨率小于135 eV（Mn Kα）。

高分辨率三维分析系统 318     

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这台高分辨率三维分析系统主要用于在亚微米级空间分辨率下对样品进行三维无损成像，并且可以与原位力学装置、升温系统、应力腐蚀系统结合，实现“多场耦合”下的4D原位分析技术。设备最高空间分辨率为500 nm，最小可实现体素为40 nm，最大电压/功率为160 kV/25 W，最大承重/样品直径为25 kg/300 mm。配备多种探测器，包括2048×2048像素、13.5 μm像素尺寸的CCD探测器，以及3072×1944像素、75 μm像素尺寸的平板探测器，光电耦合物镜探测器类型包括0.4×、4×、20×和40×。原位分析系统最大载荷为5 kN，温度范围为-20℃~160℃。

微聚焦二维X射线衍射仪 306     

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配有微焦斑光源，对固体或粉末样品进行微区（最小50μm）的物相分析，以及宏观应力、宏观织构及原位高低温分析测试，同时配备大窗口面探测器，单帧可覆盖30°范围内的多重布拉格衍射花样，对单晶样品的相关测试具有极大优势。