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自动光学膜厚测量仪

416

规格/型号：Filmetrics F54-XY-200

品牌：优尼康

应用领域：检测设备

产地：广东 - 东莞

厂家/供应商：优尼康科技有限公司

咨询电话:：400-616-7676转1554（请说明信息源自“BBIN宝盈集团网”）

更新时间：2025-07-13

级别：待认证

自动光学膜厚测量仪说明介绍

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪

核心参数

波长范围：190nm-1700nm

测量范围：20nm-40um

测量精度：0.02nm

产品介绍

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品介绍：

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品特点优势：

自动化薄膜厚度绘图系统，快速定位、实时获得结果；

可测样品膜层：基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量；

测绘结果可用2D或3D呈现，方便用户从不同的角度检视；

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。