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自动Mapping膜厚测量仪

自动Mapping膜厚测量仪

202
规格/型号:Filmetrics F50
品牌:优尼康
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:优尼康科技有限公司
咨询电话::400-616-7676转1554(请说明信息源自“BBIN宝盈集团网”)
更新时间:2025-07-14
级别:待认证

自动Mapping膜厚测量仪说明介绍

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪


简介

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统,可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台,以求能够做成千上万次测量。

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪产品介绍:

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统,可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台,以求能够做成千上万次测量。

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪产品优势:

自动化薄膜厚度绘图系统,快速定位、实时获得结果;

可测样品膜层:基本上光滑的。非金属的薄膜都可以测量;

测绘结果可用2D或3D呈现,方便用户从不同的角度检视;

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪测量原理:

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度),同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪
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