工作原理
EDX3600H通过高效超薄窗X光管发射高能X射线,激发样品表面元素产生特征X荧光。高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕捉荧光信号,经多道分析器转换为能量谱图,结合智能算法与标准数据库,实现从钠(Na)到铀(U)的元素快速识别与含量计算。其能量分辨率达140±5eV,检测限低至1ppm,可精准测定合金中ppm级微量元素(如Al、Si)及主成分含量,重复测量偏差≤0.05%。
应用范围
该设备覆盖多行业核心检测需求:
金属材料分析:测定不锈钢、铜合金、镍合金等金属材料的元素组成及含量,支持合金牌号快速匹配;
环保合规检测:满足RoHS指令(铅、镉、汞等有害物质)、CA65、EN71-3等国际环保标准检测;
工业过程控制:监测电镀液成分比例、镀层厚度(0.005μm起)及金属加工件质量。
技术参数
EDX3600H具备以下核心指标:
测量范围:钠(Na)-铀(U),覆盖轻、重元素;
分析时间:60秒至200秒可调;
管压/管流:5KV-50KV管压,50μA-1000μA管流;
样品腔尺寸:Φ320mm×100mm,适配不规则样品;
设备尺寸:660mm×510mm×350mm,重量65Kg。
产品特点
高效精准:采用国际先进水平的超薄窗X光管与SDD探测器,实现快速无损检测;
智能分析:内置多变量非线性回归程序,可独立校正基体效应,减少干扰;
人性化设计:下照式结构适配不规则样品,样品腔配备防滑定位装置,确保检测稳定性;
安全可靠:铅屏蔽设计与温控光管系统保障操作安全,延长设备寿命。