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三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)

三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)

385
规格/型号:暂无
品牌:梵码电子
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:东莞梵码电子科技有限公司
咨询电话::18219278826(请说明信息源自“BBIN宝盈集团网”)
更新时间:2025-08-20
级别:待认证

三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)说明介绍

三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)

三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)



产品用途:

冷热冲击试验箱(也成温度冲击试验箱)用于检测材料在瞬间经极高温及极低温的连续环境下所能承受的程度,籍以在最短的时间内 试验因热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害来确认产品的品质

产品定位:

适用于科研机构,塑胶制品、电子产品、包装材料、车载摄像头、化妆品、电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

工作模式:

三箱高低温冲击试验箱分为分为高温箱,常温箱、低温箱三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物通过高温-常温-低温循环移动,以达到冷热冲击测试目的。

符合标准:

GB 10592-89 高、 低温试验箱技术条件

GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件

GB/T 2423.2-2001 高温

GB/T 2423.1-2001 低温

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法 Bb

GJB150.4-1986 低温试验

GJB150.3-1986 高温试验

JIS C60068-2-2-1995 试验 B:干热

JIS C60068-2-1-1995 试验 A:低

JIS C60068-2-1-1995 试验 A:低温

JESD22-A103-C-2004 高温储存试验

JESD22-A119-2004 低温储存试验

JESD22-A119-2004 低温储存试验

MIL-STD-810F-501.4 高温

MIL-STD883C 方法 1004.2

MIL-STD810 方法 507.2 程序 3

MIL-STD-810F-502.4 低温

IEC68-2-01_试验方法 A_冷

GB/T2423.1-2001低温试验方法;

GB/T2423.2-2001;

GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

国军标GJB150.3-86;

国军标GJB150.4-86;

国军标GJB150.5-86;

GJB150.5-86温度冲击试验;

GJB360.7-87温度冲击试验;

GJB367.2-87 405温度冲击试验;

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;

满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

GB/T 2423.22-2002温度变化;

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

IEC68-2-02_试验方法 B_干热

IEC68-2-01_试验方法A_冷

IEC68-2-02_试验方法B_干热
三箱式冷热冲击试验箱(风冷式)
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