有色金属物理检测设备

ezAFM-便携式原子力显微镜 3463     

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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜，具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点，而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好，而且价格实惠，性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜，广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等扫描，可以用于电学、磁学等拓展模式，以及液相、真空环境等。

MVI原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统 3711     

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原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)经过30多年的发展后，从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求，尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。 在具备常规原子力显微镜功能的条件下，基于光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的可见-红外光源，从而实现10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及光谱仪。 此外，VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪

VITA　反应离子刻蚀机（垂直腔室） 2119     

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反应离子刻蚀系统，垂直腔室

SPRm200 表面等离子共振显微镜 2502     

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SPRm200 表面等离子共振显微镜 工作原理基于表面等离子共振（SPR）技术。是将表面等离子体共振技术和光学显微镜巧妙结合为一体的生物传感检测仪。可以同时得到细胞原位明场成像、SPR成像、及SPR动力学曲线定量亲和常数、结合解离常数，它为免标记研究分子相互作用的领域开辟一个崭新的前沿。专门针对细胞膜蛋白和相关分子免标记检测而设计的SPRm200， 使您在不需要从细胞中提取和分离膜蛋白的前提下实时观察细胞结构并同时测量药物和靶点在细胞上的结合过程。还可进行对药物和在天然状态下的膜蛋白之间相互作用的测量，高分辨SPR成像，可

原位纳米压痕仪 2543     

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NanoFlip产品既可以工作在真空环境下进行各种原位力学测试；也可以直接在大气环境下测试样品的硬度、杨氏模量或者其它物理力学性能。 NanoFlip在硬度和杨氏模量测试、连续刚度测试（CSM）、力学性能谱图（Mapping）、纳米动态力学分析（DMA）、划痕和磨损测试、柱压缩等测试中表现出色，可同时将SEM图像与力学测试数据同步。NanoFlip还可以进行快速压痕测量，这是在惰性环境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷检测仪 2369     

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KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度

电阻率测试仪 1984     

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Filmetrics的薄膜电阻测量设备开发源自于有着超过30年经验的KLA的薄膜电阻计量技术，并由20年台式测量设备开发经验的Filmetrics团队完善了桌面式方块电阻测量产品。KLA薄膜电阻测量技术包括接触（4PP）和非接触（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方块电阻测量仪器可测量沉积在多种基材上的导电片和薄膜，跨越10个数量级范围电阻率，包括：半导体晶圆基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB图案特征、太阳能电池、平板显示层和图案化特征、金属箔

Desk V 薄膜沉积解决方案 2052     

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Desk V样品制备系统配制用于蒸发和溅射，是一种高生产率的解决方案，可提供卓越、一致和高度可重复的结果。 Desk V镀膜系统提供两种版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是涡轮分子泵溅射镀膜机选项，专为高分辨率显微镜样品设计，适用于氧化和非氧化金属。Desk V磁控溅射装置精确沉积导电镀膜，其热蒸发选项可以沉积薄碳层(使用棒材或纱线)。

D300 经济型高精度台阶仪 2080     

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Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的多种变化。

ezAFM-便携式原子力显微镜 2126     

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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜，具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点，而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好，而且价格实惠，性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜，广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等扫描，可以用于电学、磁学等拓展模式，以及液相、真空环境等。

MVI原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统 2598     

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在具备常规原子力显微镜功能的条件下，基于光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的可见-红外光源，从而实现10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及光谱仪。VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪进行联用，组成原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统，以满足科研人员在纳米尺度下的测试需求。

P7 晶圆探针式轮廓仪/台阶仪 2101     

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KLA是全球半导体在线检测设备市场较大的供应商，在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。 P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了好的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。从可靠性表现来看， P-7具有较好的测量重复性。UltraLite?传感器具有动态力控制，

实验室合金颚式破碎机 5262     

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LHMY-HJ125x150颚式合金破碎机 一、概述： 颚式合金破碎机主要用于化验室，对原材料的中碎和细碎,其破碎方式为曲动挤压式。被破碎物料的大块度应小于其选用机器型号料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗压强度为中等硬度。配用合金材质鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定货。

场发射透射电子显微镜 3829     

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JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

红外光谱仪 3266     

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傅立叶变换红外光谱仪能在最短的时间内分析具有挑战性的样品，提供最完善的解决方案。分析实验室对能够高效完成原材料和最终产品的分析任务的仪器的需求与日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立叶变换红外光谱仪显著简化了传统傅立叶变换红外光谱仪的数据分析，样品采集和仪器验证环节，成为完成这类分析任务的一种较好的选择为确保仪器性能而设计系统性能确认（SP）是一个确保光谱仪长期稳定运行的有力工具。

热重分析仪 3447     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG与DSC测试系统。具有如下显著优点：消除称重量、样品均匀性、升温速率、气氛压力与流量差异等因素影响，TG与DTA/DSC曲线对应性更佳。同步热分析仪根据某一热效应是否对应质量变化，有助于判别该热效应所对应的物化过程（如区分熔融峰、结晶峰、相变峰与分解峰、氧化峰等）。同步热分析仪在反应温度处知道样品的当前实际质量，有利于反应热焓的准确计算。

紫外可见近红外分光光度计 3332     

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岛津UV－3600是世界领先的高性能的紫外可见近红外分光光度计，性能卓越。紫外可见分光光度计是每个化学分析实验室必备的常用仪器设备之一，在各种定量和定性分析中得到了广泛的应用。岛津的紫外可见分光光度计产品线非常丰富，从最普通的单光束分光光度计到测量范围可以扩展到深紫外、近红外区域的UV－VIS－NIR分光光度计。

球差电镜测试 3101     

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JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。

工业CT 3097     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大观察视野、无损 3D X射线微焦点计算断层扫描系统。可满足多种 3D 表征和检测需求的成像解决方案，不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节，还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。XRADIA CONTEXT 建立在历经考验的蔡司XRADIA平台之上，图像质量、稳定性和易用性均属上乘，且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。

差示扫描量热仪 3526     

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耐驰差示扫描量热仪DSC214对于日常的 DSC 测试提供了强有力的解决方案，并在硬件与软件方面作了极大的改进。仪器在易于操作的同时提供了的可靠性，使得这款仪器成为包括聚合物工业在内的诸多行业进行产品研发，质量控制与失效分析的理想工具。

洛氏硬度计 3000     

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洛氏硬度计是世界上第一台依据洛氏硬度试验原理设计的，只需要单侧接触试样就可测试金属硬度的洛氏硬度计，依靠磁力将洛氏硬度计测头吸附在钢铁表面，不需要对试样进行支撑，测试精度符合标准GB/T230、ISO6508，不低于台式洛氏硬度计。利用磁力吸盘将硬度计固定在钢铁工件表面，无需支撑，无需取样，不用移动 工件，只要单侧接触即可完成测试。

数显显微维氏硬度计 2618     

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HVS-50型数显维氏硬度计是光机电一体化的高新技术产品，具有良好的可靠性，可操作性，是小负荷维氏硬度计的升级换代产品。

X射线荧光光谱仪 3824     

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ARL ADVANT X 是一台灵活、高性能的顺序式 XRF 光谱仪，可分析周期表中多达84种元素。可选四种功率（从 1200W 至 4200W ），不仅能优化性能还可优化日常和苛刻应用的操作成本。X 射线荧光光谱仪 （XRF） 分析是一项应用广泛的分析技术，可利用简易的样品制备和无损分析，对各种固体和液体样品进行元素分析。

X射线光电子能谱仪 3152     

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ESCALAB 250XI X射线光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10NM厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。

电子探针显微镜（EPMA） 3910     

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日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。

激光粒度仪（粒度/zeta） 2553     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA电位分析仪是一款高性价比的分子/粒度和ZETA电位分析仪。使用动态光散射以90度散射角测量颗粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微电泳测量ZETA电位和电泳迁移率的能力，以及使用静态光散射测量分子量。动态光散射检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波动随时间的变化。检测器将散射光信号转化为电流信号，再通过数字相关器的运算处理，得到颗粒在溶液中扩散的速度信息，即扩散系数。通过STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒径大小及其分布。

等离子聚焦离子束系统 2887     

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蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。

X射线衍射仪 3071     

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X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

拉曼光谱仪 2901     

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拉曼光谱仪是测定分子振动光谱的仪器，可用于有机化合物、无机化合物、高分子聚合物、生物膜等各种材料的结构特性分析。采用共焦光路设计，研究物质成分的判定与确认；与红外光谱互补， 是分析物质组分、结构等的光谱分析手段之一。

场发射扫描电子显微镜 3768     

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日立场发射扫描电子显微镜SU8020采用日立技术公司全新开发的冷场电子枪，实现超高分辨率下观察的同时，稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器。